泰興市航順電子有限公司與您共同學(xué)習(xí)低電平接觸電阻檢驗

    考慮到接觸件膜層在高接觸壓力下會發(fā)生機(jī)械擊穿或在高電壓、大電流下會發(fā)生電擊穿。對某些小體積的連接器設(shè)計的接觸壓力相當(dāng)小，使用場合僅為 mV 或 mA 級，膜層電阻不易被擊穿，可能影響電信號的傳輸。故國軍標(biāo) GJB1217-91 電連接器試驗方法中規(guī)定了兩種試驗方法。即低電平接觸電阻試驗方法和接觸電阻試驗方法。其中低電平接觸電阻試驗?zāi)康氖窃u定接觸件在加上不能改變物理的接觸表面或不改變可能存在的不導(dǎo)電氧化薄膜的電壓和電流條件下的接觸電阻特性。

    所加開路試驗電壓不超過 20mV，而試驗電流應(yīng)限制在 100mA，在這一電平下的性能足以滿足以表現(xiàn)在低電平電激勵下的接觸界面的性能。而接觸電阻試驗?zāi)康氖菧y量通過規(guī)定電流的一對插合接觸件兩端或接觸件與測量規(guī)之間的電阻，而此規(guī)定電流要比前者大得多，通常規(guī)定為 1A。 更多詳情請咨詢：http://pm300.com.cn